Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測儀

金屬硬度檢測儀性能和優(yōu)勢：

Equotip 550 是便攜式硬度檢測中功能zui齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。 這將能夠在現(xiàn)場自動將 Leeb 關聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設計的界面，提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向?qū)А⒆詣域炞C進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行高質(zhì)量的測量和對已測得數(shù)據(jù)進行分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現(xiàn)場使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認可的測量技術和行業(yè)標準。 Equotip 裝置*眾多行業(yè)對無損硬度檢測的要求。

特色/應用/標準化/技術數(shù)據(jù)：
Equotip Leeb

· 根據(jù)需要自動轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）

· 自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）

· 測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。

· 每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測試塊，用于定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

· 模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應用

· 組合法： 在現(xiàn)場自動將 Leeb 關聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

· 引導向?qū)В?預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度

· 自動驗證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

· 互動指南： 通過屏幕通知為您的應用獲取zui相關的設置

· 轉換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗證轉換曲線

· 自定義報告： 模塊化報告處理器允許自定義測量報告

· 自動選項： 將 NDT 自動操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動檢測環(huán)境

· 外殼經(jīng)過特殊設計，可用于嚴苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋

· 高分辨率彩色顯示屏

· 電池使用時長 > 8h

· 8 GB 閃存

· 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網(wǎng)

· 通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實現(xiàn)未來保障投資

· 里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測

· 適用于材料挑選、驗收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測

· 適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場檢測

· 方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供一些附件，例如一個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

標準

· ASTM A956 / E140 / A370

· ISO EN 16859（即將發(fā)布）

· DIN 50156

· GB/T 17394

· JB/T 9378

準則

· ASME CRTD-91

· DGZfP Guideline MC 1

· VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

· Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

儀器

· 顯示屏 7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素

· 內(nèi)存:內(nèi)置 8 GB 閃存（可存儲多達 1000000 個測量值）

· 區(qū)域設置 公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū)

· 電池 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah

· 電池使用時長 > 8h（標準操作模式下）

· 電源輸入 12 V +/-25 % / 1.5 A

· 重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）

· 尺寸 250 x 162 x 62 mm

· zui高海拔 2500 m 海拔高度

· 濕度 < 95?%RH，非冷凝

· 操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F） （正在充電且儀器正在運行）
          0°C 至 40°C（32 至 104°F）  （正在充電且儀器關閉）
          -10°C 至 50°C（14 至 122°F） （未充電）

· 環(huán)境:適合室內(nèi)與室外使用

· IP 等級 IP 54

· 污染等級 2

· 安裝類別 2

Equotip Leeb 沖擊裝置

· 測量范圍 1-999 HL

· 測量精度 ± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %）

· 分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
          0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)

· 沖擊方向 自動補償（DL 探頭除外）

· 沖擊能量

· D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm

· DL 探頭為 11.1 Nmm

· C 探頭為 3.0 Nmm

· G 探頭為 90.0 Nmm

沖擊體質(zhì)量

· D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司）

· DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司）

· C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司）

· G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）

球壓頭

· C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）

· DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸）

· G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）

· S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）

· E 探頭為多晶金剛石，直徑3.0 毫米（0.12 英寸）

操作溫度 –10?C 至 50?C（14 至 122°F）